在半導體器件中，可控矽屬於大功率半導體器件。主要用於達到整流、快速切斷或接通電源的目的，廣泛用於工業、通訊、交通等諸多領域的配套設備。也是電子電路的核心器件。雙向可控矽相當於兩個單向可控矽反平行。即一個單向矽陽ji與另一個陰ji並排連接，其引出端稱為T1ji，一個單向矽陰ji與另一個陽ji連接，其引出端稱為T2ji，其餘為控製電ji(G)。

　　1.單向和雙向可控矽:首先測量兩個ji點，如果正向和反向測量指針都不動(R×1塊)

　　，可能是A、K或G、Aji(用於單向可控矽)或T2、T1或T2、Gji(用於雙向可控矽)。如果其中一個測量指令是幾十到幾百歐姆，那一定是單向的可控矽。而紅筆接Kji，黑筆接Gji，其餘為Aji。如果正向和反向測量指示都是幾十到幾百歐姆，則bixu是雙向的可控矽。然後將旋鈕轉到R×1或R×10檔進行重新測試。如果電阻值在某一時間稍大，較大的一個將連接到Gji，黑色的一個連接到T1ji，其餘的連接到T2ji。2.性能差異:將旋鈕轉到R×1位置。對於1~6A單向可控矽，紅筆接Kji，黑筆同時接Gji和Aji，斷開Gji同時保持黑筆離Aji。指針應該指示幾十歐姆到一百歐姆。此時可控矽已經被觸發，觸發電壓低(或者觸發電流低)。然後瞬間關閉Aji再打開，指針應該回到∞位置，說明可控矽是好的。

　　對於1~6A雙向可控矽，紅筆接T1ji，黑筆同時接Gji和T2ji。在黑筆沒有脫離T2ji的前提下，Gji斷開，指針要指示幾十到一百多歐姆(取決於可控矽current和不同廠家)。然後，切換兩個行程，重複上述步驟測量一次，指針指示比上次略大十幾到幾十歐姆，說明可控矽良好，觸發電壓(或電流)較小。如果在Aji或T2ji保持接通的情況下，Gji斷開，指針立即回到∞位置，則表示可控矽觸發電。

　2.雙向可控矽的好壞可以用萬用表判斷，但具體參數無法測量

　　用萬用表測量的方法如下:

　　1.T2ji的確定:用萬用表R*1或R*100分別測量各引腳的反向電阻。如果兩個管腳的正負電阻都很小(100歐姆左右)，那麽它們就是t1和Gji，剩下的一個就是T2ji。

　　2.區分T1和Gji:假設這兩個ji中的任意一個為T1ji，另一個為Gji，將萬用表設在R*1位置。用兩個探針(不分正負ji)分別接觸確定的T2ji和假設的T1ji，用假設的Gji接觸同時接觸T1的探針。假設T1ji不關的情況下，假設Gji關，萬用表仍顯示on狀態。

　　3.交換探針，用同樣的方法測量。如果萬用表仍然顯示相同的結果，那麽假設的T1ji和Gji是正確的。假設T1ji斷開，假設Gji斷開，萬用表顯示斷開狀態，說明假設T1ji和Gji相反。如果測量是根據新的假設進行的，那麽結果一定是正確的。

　　如果無法測出上述結果，則雙向可控矽不良。這種方法雖然不能測出具體參數，但判斷是否可用還是可行的。

　　雙向可控矽使用條件

　　(1)允許施加的電壓超過正向翻轉電壓，否則控製電ji將不起作用。

　　(2)可控矽的平均通態電流從anquan角度考慮一般為zui大電流的1.5~2倍。

　　(3)為了保證控製ji的可靠觸發，施加在控製ji上的觸發電流一般大於其值。此外，bixu采取保護措施。過流的保護措施一般是在電路中串快速熔斷器，其額定電流約為可控矽平均電流的1.5倍，其接入位置可在交流側或DC側，在交流側時額定電流較大。

　　一般采用前者。過電壓保護常發生在有電感的電路上，或交流側有幹擾的浪湧電壓上，或交流側瞬態過程產生的過電壓上。由於過電壓峰值高，作用時間短，常采用電阻和電容吸收電路來yizhi。