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可控矽質量的判斷方法

發布時間: 2022-11-09 11:09:40    人氣:200 次

可控矽是設備電路中最基本、最重要的元件。可控矽通常被稱之為功率半導體模塊(semiconductor module)。最早是在1970年由西門康公司率先將模塊原理引入電力電子技術領域,是采用模塊封裝形式,具有三個PN結的四層結構的大功率半導體器件。防反二極管芭乐视频下载IOS100%負載電流老化試驗,通過歐共體CE認證,國際ISO9000認證,國內3C認證。整流橋將整流管封在一個殼內了。分全橋和半橋。全橋是將連接好的橋式整流電路的四個二極管封在一起。半橋是將四個二極管橋式整流的一半封在一起,用兩個半橋可組成一個橋式整流電路,一個半橋也可以組成變壓器帶中心抽頭的全波整流電路, 選擇整流橋要考慮整流電路和工作電壓。芭乐视频在线观看高清完整版的質量決定了設備的運行質量和安全性。在這方麵,在購買和使用可控矽元件之前,應對可控矽元件的質量進行檢測和判斷。判斷可控矽元件質量的方法有很多,以下是四種常用的方法來解釋:

判斷自己一個可控矽元件之間是否可以完好,工程師需要從以下四個發展方麵問題進行分析檢查,首先是作為判斷該元件的三個PN結應完好,其次是當陰極與陽極間電壓反向連接時能夠有效阻斷不導通,第三是當控製極開路時,陽極與陰極間的電壓正向影響連接時也不導通,第四是給控製極加上中國正向工作電流,給陰極與陽極加正向電壓時,可控矽應當導通,把控製極電流去掉後仍處於導通狀態。滿足學生以上研究四個經濟條件的可控矽元件,才是企業符合教學設計過程中使用技術要求的。

要了解可控矽元件是否滿足上述要求,其實非常簡單,隻需要用萬用表來測量可控矽的極間電阻,就可以判斷前三個方麵的質量。具體操作方法為:使用R1k或R10k測量陰極與陽極之間的正向電阻和反向電阻(控製極不連接到電壓),這兩個電阻值應該很大。電阻值越大,正、負漏電流越小。如果測量的電阻很低或接近無窮大,可控矽已經短路或開路,並且可控矽不能使用。

接下來,需要檢測柵極和陰極之間的PN結是否損壞。 芭乐视频在线下载可以用萬用表的R~1k或R~10k來測量陽極與控製電極之間的電阻,正向和反向測量的電阻應大於幾百千歐,如果電阻很小,芭乐视频在线观看高清完整版就會擊穿。 用R1k或R100測量控製電極和陰極之間PN結的正向和反向電阻約為數千歐姆。如果正向電阻接近零或無窮大,則控製電極和陰極之間的PN結被損壞。 反向阻力應該很大,但不是無限的。 通常,反向阻力明顯大於正向阻力。

如果要確定芭乐视频在线观看高清完整版是否因故障而損壞,工程師可以使用萬用表電阻 r × 1塊,然後用黑筆到陽極,紅筆到陰極,此時萬用表指針不應移動。當紅色表連接到陰極,黑色表連接到控製電極時,萬用表的電阻指針應偏向右側,電阻讀數約為10歐姆。如果陽極到黑色表筆,陰極到紅色表筆,萬用表指針偏轉,表明單向可控矽有擊穿損壞。


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